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| author | Yuval Adam <_@yuv.al> | 2017-08-30 08:25:59 +0000 |
|---|---|---|
| committer | Yuval Adam <_@yuv.al> | 2017-08-30 08:25:59 +0000 |
| commit | 8e4bff4cab0ddac6060645b0715210484d02ff40 (patch) | |
| tree | 3a5c3024371a04692a3a6d9974d001cdff8ebf84 /drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_agetest/readme.txt | |
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| -rwxr-xr-x | drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_agetest/readme.txt | 15 |
1 files changed, 15 insertions, 0 deletions
diff --git a/drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_agetest/readme.txt b/drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_agetest/readme.txt new file mode 100755 index 00000000..91a5977f --- /dev/null +++ b/drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_agetest/readme.txt @@ -0,0 +1,15 @@ +agetest， 即老化测试，用于获取单个nandflash 擦除块的寿命。该测试需要的时间较长，一般需要5小时以上，由nandflash的特性决定。为了确保被测试擦除块彻底被擦坏，需要使用强制擦除接口（将/sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock置为1）。
+
+参数说明：
+dev:用于指定测试使用的mtd分区，默认值为4
+
+使用方法：
+1 将/sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock置为1；
+cmd:echo "1" > /sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock
+2 root后加载测试模块并传入参数，测试结果通过kernel log输出，通过erase_time来衡量某款nandflash的特性;
+cmd:insmod nandflash_agetest.ko dev=4
+3 将/sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock置为0。
+cmd:echo "0" > /sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock
+
+注意：
+每进行一次测试，会增加一个bad block。
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