From 8e4bff4cab0ddac6060645b0715210484d02ff40 Mon Sep 17 00:00:00 2001
From: Yuval Adam <_@yuv.al>
Date: Wed, 30 Aug 2017 08:25:59 +0000
Subject: Initial file dump from open source release

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 .../mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_agetest/readme.txt   | 15 +++++++++++++++
 1 file changed, 15 insertions(+)
 create mode 100755 drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_agetest/readme.txt

(limited to 'drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_agetest/readme.txt')

diff --git a/drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_agetest/readme.txt b/drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_agetest/readme.txt
new file mode 100755
index 00000000..91a5977f
--- /dev/null
+++ b/drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_agetest/readme.txt
@@ -0,0 +1,15 @@
+agetest， 即老化测试，用于获取单个nandflash 擦除块的寿命。该测试需要的时间较长，一般需要5小时以上，由nandflash的特性决定。为了确保被测试擦除块彻底被擦坏，需要使用强制擦除接口（将/sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock置为1）。
+
+参数说明：
+dev:用于指定测试使用的mtd分区，默认值为4
+
+使用方法：
+1 将/sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock置为1；
+cmd:echo "1" > /sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock
+2 root后加载测试模块并传入参数，测试结果通过kernel log输出，通过erase_time来衡量某款nandflash的特性;
+cmd:insmod nandflash_agetest.ko dev=4
+3 将/sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock置为0。
+cmd:echo "0" > /sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock
+
+注意：
+每进行一次测试，会增加一个bad block。
\ No newline at end of file
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