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diff --git a/drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_postest/readme.txt b/drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_postest/readme.txt
new file mode 100755
index 00000000..540be1f6
--- /dev/null
+++ b/drivers/mtd/tests/sprd_mtdtest/nandflash_postest/readme.txt
@@ -0,0 +1,15 @@
+postest——位置测试
+本测试主要测试驱动的基本操作是否正确。该测试会将一个正常的block标记成bad_block，测试结束后需要调用强制擦除接口将该bad_block恢复正常（将/sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock置为1）。
+
+参数说明：
+dev:用于指定测试使用的mtd分区，默认值为4
+bad_pos:用于指定坏块标记的位置，默认值为0
+bad_len:用于指定坏块标记的长度，默认值为2 bytes
+
+使用方法：
+1 将/sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock置为1；
+cmd:echo "1" > /sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock
+2 root后加载测试模块并传入参数，测试结果通过kernel log输出;
+cmd:insmod nandflash_postest.ko dev=4 bad_pos=0 bad_len=2
+3 将/sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock置为0
+cmd:echo "0" > /sys/kernel/debug/nfc_base/allowEraseBadBlock
+\ No newline at end of file